Evidenze di una componente a basso gap in film sottili di niobio sottoposti a compressione

Abstract degli autori

Analizziamo la risposta alle microonde di film di Nb depositati per sputtering in funzione dello stress biaxiale del film. Sebbene le misure di trasporto mostrino che, lungo la serie di stress, le temperature di transizione superconduttiva ($9.0\pm 0.2$K) e i rapporti di resistenza residua sono quasi identici, i risonatori a microonde realizzati con film sottoposti a forte compressione presentano perdite dipendenti dalla temperatura più elevate e spostamenti di frequenza maggiori. Una descrizione convenzionale a fase singola di Mattis--Bardeen restituisce una temperatura critica effettiva di $2.4\pm0.2$K, circa quattro volte inferiore al valore ottenuto dalle misure di trasporto. Mostriamo invece che i dati sono compatibili con la presenza di un’ulteriore componente a basso gap, il cui contributo aumenta con lo stress compressivo. Questi risultati mostrano che le misure di trasporto convenzionali possono non rilevare eccitazioni a bassa energia dipendenti dallo stress, che influenzano fortemente le prestazioni alle microonde.